渦流測厚儀 型號：TX20-ED400

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

渦流測厚儀 型號：TX20-ED400

技術(shù)參數(shù)
測量范圍： 0～500 μm
測量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g

渦流測厚儀 型號：TX20-ED400

儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。

渦流測厚儀 型號：TX20-ED400

技術(shù)參數(shù)
測量范圍： 0～500 μm
測量精度： 0～50 μm：±1 μm；
50～500 μm：±2%
分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；
50～500 μm：1 μm；
0～500 μm：1 μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm
重量： 280 g